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化学分析
微区X射线荧光分析仪Atlas
区X射线荧光分析仪Atlas,作为一款能量色散型X射线荧光分析仪(EDXRF),Atlas空间分辨率、操作自动化,束斑尺寸等诸多性能指标表现优异,目前Atlas有两个型号M和X(尺寸更大)。 在线留言

电路板的X射线面分布图,(Cu, Br, Ti, Ca, Fe, Sn, Ni, Zn)

 


介绍:
  IXRF专注于精确地微区痕元素分析产品,包括齐全的能谱仪(EDS)和X射线荧光(XRF)。
     
  在硬件方面,作为一款台式XRF,Atlas-M型号的体积为890×560×560mm,具有较大的样品仓体积,相对应的是较大的样品台行程以及最重的载重量,而与此同时,却可以将样品台的移动速度提升到300mm/s,移动精度≤1μm。
      其采用的毛细管聚焦技术,可将束斑缩至5μm,另外也可通过选用准直器等配件,使束斑在5μm—1000μm之间的范围内可调;其多大8片的滤波片选择,可满足更多的分析需求。
  在软件方面,作为曾因其软件研发能力而获得英国政府颁发的千禧年大奖的公司,IXRF在Atlas操作软件的开发上沿袭了其一贯的专业性及开放性。
在数据的获取及处理上,可实现数据的一键采集,或自动或手动的鉴别样品成分,并利用FP建模或quantitative  match等功能实现样品成分的定量分析;在图像处理方面,不仅可对获取的图像进行拼接,还可实现相分析、特征颗粒筛选、特征颗粒形态学上的测量及成分分析等功能;在面分布及线扫描方面,可同时获得多达35种元素的信息,并且实现单像素的谱图数据采集,并可完全保存下来,后续仍可继续对此数据进行点线面等处理。
  在应用方面,可在各种环境,如大气、真空以及氦气等气氛下分析多种类的样品,无论是固体、液体、颗粒、粉末,样品大小,抛光与否,表面粗糙与否皆可轻松胜任,且实现无损分析。
      鉴于Atlas的突出的性能特点,其被广泛的应用到地矿文博、电子器件、环境监测、刑侦医学、医药检测等方面。

Atlas-M型号技术参数

样品类型

、液、颗粒、粉末

测试介质

空气、真空氦气

激发源

12-50W, 0-50kV, 200 μA-1mA

激发源参数:

靶材

束班尺寸

滤片

多毛细管或准直器

铑(其他可选

5μm-1000μm连续可调

8片

探测器

分辨率

活区面积

SDD

135-145ev

50-150mm2

样品台

X、Y、Z三轴

320X320mm可移动范围

载重10Kg


Mapping最大尺寸

样品移动速度


220X200mm

300mm/s

元素分析范围

Na-U

特点:

1、 束斑尺寸最小可达5μm;

2、 大样品台行程(320×320×120mm),移动速度可达300mm/s;

3、 多达8片的滤波片选择;

应用领域:

1、 地矿文博;

2、 电子器件;

3、 刑侦医学;

4、 医药检测;

5、 环境监测。

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