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微区X射线荧光分析仪Atlas
微区X射线荧光分析仪Atlas，作为一款能量色散型X射线荧光分析仪（EDXRF），Atlas的空间分辨率、操作自动化，束斑尺寸等诸多性能指标表现优异，目前Atlas有两个型号M和X（尺寸更大）。
电路板的X射线面分布图，（Cu, Br, Ti, Ca, Fe, Sn, Ni, Zn）
Atlas-M型号技术参数
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样品类型 |
固、液、颗粒、粉末 |
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测试介质 |
空气、真空、氦气 |
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激发源 |
12-50W, 0-50kV, 200 μA-1mA |
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激发源参数： 靶材 束班尺寸 滤片 |
多毛细管或准直器 铑（其他可选） 5μm-1000μm连续可调 8片 |
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探测器 分辨率 活区面积 |
SDD 135-145ev 50-150mm2 |
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样品台 |
X、Y、Z三轴可动 320X320mm可移动范围 载重10Kg |
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Mapping最大尺寸 样品移动速度 |
220X200mm 300mm/s |
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元素分析范围 |
Na-U |
特点：
1、 束斑尺寸最小可达5μm；
2、 大样品台行程（320×320×120mm），移动速度可达300mm/s；
3、 多达8片的滤波片选择；
应用领域：
1、 地矿文博；
2、 电子器件；
3、 刑侦医学；
4、 医药检测；
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