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天美公司参加第三届高能射线探测与成像材料青年学者研讨会

       2026年4月24日至26日,第三届高能射线探测与成像材料青年学者研讨会在山东济南圆满落幕。本次研讨会由山东大学主办,聚焦高能射线探测材料前沿技术与产业化发展,围绕新型闪烁体、半导体探测器、成像系统集成、人工智能辅助诊断等核心领域,开展了全方位、深层次的学术交流与产业探讨。



       天美公司携高能射线分子光谱表征全套解决方案精彩亮相本次盛会,全方位展示了在高能射线激发材料分析领域的技术实力与应用经验。与会嘉宾围绕闪烁发光领域仪器应用、定制化测试服务、核心技术创新等话题展开热烈讨论,现场互动频繁、交流氛围浓厚。





       未来,天美将坚守技术创新初心,以全球领先技术深度赋能本土自主研发,持续融合国产化科研成果,不断优化升级分析检测解决方案,打造更稳定、高效、智能的产品体系。

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